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EddyCus TF lab 2020電阻率測(cè)量?jī)x可以對(duì)導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動(dòng)單點(diǎn)測(cè)量，并以非接觸模式對(duì)薄金屬層進(jìn)行層厚測(cè)量。這個(gè)緊湊的臺(tái)式設(shè)備是快速和準(zhǔn)確測(cè)量200 x 200 mm²（8 x 8英寸）以下樣品的理想選擇。除了測(cè)量導(dǎo)電薄層外，還可以分析摻雜的晶圓和導(dǎo)電聚合物。

四探針面電阻測(cè)量?jī)xSD-800采用四探針接觸式原理，用于測(cè)量導(dǎo)電膜層的面電阻，探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易 劃傷膜層。儀器有多個(gè)量程范圍可自動(dòng)選擇，以O(shè)hm/sq或Siemens/sq顯示數(shù)據(jù)，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和測(cè)量結(jié)果 自動(dòng)存儲(chǔ)。

非接觸式面電阻測(cè)試儀Statometer G采用感應(yīng)式測(cè)量原理，無(wú)探針接觸導(dǎo)電膜層，既可測(cè)量表面導(dǎo)電也可測(cè)量表面不導(dǎo)電的導(dǎo)電玻璃和導(dǎo)電膜層，是目前Low-E鍍膜生產(chǎn)普遍選用的優(yōu)質(zhì)選擇。